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X-MET3000TXV+航天航空工业轻金属元素的检测

发布日期：2008-08-24 浏览次数：2943

X-MET3000TXV+：牛津仪器新型手持式XRF分析仪

——航天航空工业轻金属元素的检测

牛津仪器型的便携式XRF分析仪，在硬件上配置了新的真空泵，为航天航空工业轻金属元素的检测提供了更为有效的分析工具。X-MET3000TXV+ 突破了传统意义上XRF无法测量的一些应用，可快速地检测航空部件上铝合金中硅和镁含量、钛合金中铝的含量。而在这之前，上述元素都无法检测。X-MET3000TXV+不但实现上述应用，同时只需您轻轻一按，就能快速准确地得到样品的牌号身份和各元素的含量。

这款仪器为用户带来巨大效益，而便携式直读光谱仪的技术会在表面留下印记。X-MET3000TXV+所具备的轻元素检测能力，尤其适合航天航空及相关行业，因为这些行业普遍使用铝合金和钛合金。关于X-MET3000TXV+的真空系统，并不需要携带压缩气体瓶。降低了您的气体消耗成本，同时您也不必担心没气时，无法进行检测的尴尬局面。

传统的便携式XRF分析仪对合金的鉴别是基于重金属元素分析，因为铝、镁、硅这些元素所产生的低能量X射线在空气中阻力太大，无法到达探测系统，所以无法分析。X-MET3000TXV+所配置的真空泵，改变了其空气状态的工作模式，实现了对这些元素的测量。

牛津PentaPIN^TM探测器的高分辨率增强了真空泵的特性，尤其表现在分析时间缩短和各元素的检测下限降低。原理是只有通过硅或镁的含量来鉴别铝合金和钛合金。新产品X-MET3000TXV+在分析其他合金（例如不锈钢、铜合金等）保留了原先X-MET3000TX+分析仪的高性能。

基于牛津仪器PentaFET

技术的PentaPIN^TM 探测器，能够更快地得到分析结果，并降低了所有被分析元素的检测下限。应用该款探测器的仪器在10秒内所取得的检测结果与标准的硅PIN 探测器（Si-PIN）的同类分析仪在30秒的测试时间内所取得数据结果是等同的。的操作软件能够处理新探测器产生的数据，提高结果的准确性。

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